[实用新型]记忆卡测试装置无效
| 申请号： | 200820114780.2 | 申请日： | 2008-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN201207295Y | 公开（公告）日： | 2009-03-11 |
| 发明（设计）人： | 庞国梁;徐家祥 | 申请（专利权）人： | 昆山致嘉电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;H01R12/16 |
| 代理公司： | 北京元中知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 杨建君 |
| 地址： | 215300江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型是一种记忆卡测试装置，是供数字产品测试记忆卡读取功能之用；该记忆卡测试装置包含有一本体、一测试端、至少二记忆卡插座及至少一控制开关，该控制开关切换记忆卡插座与该测试端之间的连接；因此，本实用新型使用者可以大幅减少在数字产品上拔插记忆卡的动作及次数，不仅可以提升效率，而且能降低组件损坏几率、加强测试人员的操作准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 记忆 测试 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种记忆卡测试装置，其特征在于，包括有一本体、一测试端、至少二记忆卡插座及至少一控制开关，该各记忆卡插座分别符合相异的标准，且该本体设有电路供测试端连接各记忆卡插座，而该控制开关切换各个记忆卡插座与该测试端之间的连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山致嘉电子科技有限公司，未经昆山致嘉电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200820114780.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
