[实用新型]测试插件

摘要

本实用新型公开了一种测试IC芯片及电子回路电气连接用的测试插件。连接插件由伸缩弹簧与芯柱组成，本连接插件与上基板第一连接下电极及下基板的第二连接上电极形成电气回路，具有电阻较小、电感值小、结构简单，便于大批量生产，成本比较低的特点。利用伸缩弹簧的较高弹性系数，可保持稳定的弹性，利用芯柱设于弹簧内，不让弹簧过度弯曲，呈垂直状态，使上、下基板保持恒定压力，对被接触电极部损伤小。

主权项

1、一种测试插件，包括有一与测试仪器接触的上基板(1)，上基板(1)设有第一连接上电极(11-1)、下电极(11-2)，有一与检测探针接触的下基板(2)，下基板(2)设有对应上基板(1)第一连接下电极(11-2)的第二连接上电极(21-1)，下基板(2)还设有第二连接下电极(21-2)，有一支承架(3)，支承架(3)设有对应上基板(1)第一连接下电极(11-2)、下基板(2)第二连接上电极(21-1)的通孔(31)，其特征在于：还包括一个可拆式插设在所述通孔(31)内的连接插件(4)；连接插件(4)由伸缩弹簧(41)与芯柱(42)组成，伸缩弹簧(41)下端与下基板(2)的第二连接上电极(21-1)电性接触，伸缩弹簧(41)另一端与芯柱(42)的挡片(421)弹性接触，芯柱(42)挡片(421)以下的一端设于弹簧(41)内，芯柱(42)挡片(421)以上的一端与上基板(1)的第一连接下电极(11-2)电性接触。