[发明专利]一种精密扫描式切削系统及切削样本加工方法有效

专利信息
申请号: 200810306499.3 申请日: 2008-12-24
公开(公告)号: CN101458177A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 骆清铭;龚辉;张斌;李安安;王青蒂 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N1/06 分类号: G01N1/06;B23Q1/25;B23Q11/00
代理公司: 北京市德权律师事务所 代理人: 王建国
地址: 430074湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种精密扫描式切削系统及切削样本加工方法,所述切削系统包括刀具、样本槽、精密组合移动平台、精密组合移动平台控制器、控制计算机以及循环吸屑装置;所述刀具安装于样本槽的上方;所述样本槽固定在所述精密组合移动平台上,随平台一起运动;所述精密组合移动平台由控制器驱动,所述控制器与所述控制计算机通讯连接;所述循环吸屑装置安装于刀具和样本槽之间。切削样本加工方法是在三维方向移动样本,实现扫描式加工样本,产生所需尺寸的样本薄片和样本截面。本发明实现了按层扫描方式加工样本,能够长时间连续稳定的自动工作,具有高精度的运动过程,能达到亚微米级的工作精度。
搜索关键词: 一种 精密 扫描 切削 系统 样本 加工 方法
【主权项】:
【权利要求1】一种精密扫描式切削系统,其特征在于:所述切削系统包括刀具、样本槽、精密组合移动平台、精密组合移动平台控制器、控制计算机以及循环吸屑装置;所述刀具安装于样本槽的上方;所述样本槽固定在所述精密组合移动平台上,随平台一起运动;所述精密组合移动平台由控制器驱动,所述控制器与所述控制计算机通讯连接;所述循环吸屑装置安装于刀具和样本槽之间。
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