[发明专利]单光子断层成像方法和单光子断层成像系统有效
申请号: | 200810247569.2 | 申请日: | 2008-12-30 |
公开(公告)号: | CN101449980A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 蔡白银;曹文田;包尚联 | 申请(专利权)人: | 北京海思威科技有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京市卓华知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈子英 |
地址: | 100084北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种单光子断层成像方法和一种单光子断层成像系统,该方法通过光电倍增管阵列采集γ光子在闪烁晶体上碰撞产生的荧光信号,通过数据采集模块将该荧光信号转换为荧光数字信号送入定位模块进行定位计算,形成定位数据并将全部有效的定位数据转换为图像,所述定位计算中采用的算法是质心引导的最大似然定位算法,先用质心法计算出γ光子碰撞事件发生的位置,再在选定范围内用局部二维最大似然法进行精确的估计,形成该γ光子碰撞事件的定位数据;该系统包括闪烁晶体、光电倍增管阵列、数据采集模块、定位模块以及成像模块。本发明的定位精度与最大似然定位法相近,并且大幅度缩短了计算时间,大幅度降低了对计算机的硬件和存储空间的要求。 | ||
搜索关键词: | 光子 断层 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
1. 一种单光子断层成像方法,其特征在于通过光电倍增管阵列采集γ光子在闪烁晶体上碰撞产生的荧光信号,通过数据采集模块将该荧光信号转换为荧光数字信号送入定位模块进行定位计算,形成定位数据并将全部有效的定位数据转换为图像,所述定位计算中采用的算法是质心引导的最大似然定位算法,先用质心法计算出γ光子碰撞事件发生的位置,再在选定范围内用局部二维最大似然法进行精确的估计,形成该γ光子碰撞事件的定位数据。
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