[发明专利]基于扫描线方法的查找FPGA芯片空白区域的方法

摘要

本发明公开了一种基于扫描线方法的查找FPGA芯片空白区域的方法，其查找步骤为：从给定MKE向左查找，将所得到的连续空白单元数作为有效查找宽度w加入到有效查找宽度集合SVSW中；从该MKE的依次向上和向下找出连续空白单元数的递减序列添加到有效查找宽度集合当中，直到在FPGA中遇见边界或是已经被使用的单元为止；从SVSW中逐次选取没有查找过的w进行下述查找：检查给定的MKE是否被在同一扫描线中的其它MER用w进行查找过，如果是则停止，否则，以该MKE所在位置为右垂直边界，分别向上和向下寻找宽w的连续空白区域，并将查找所遍历的扫描线上的单元标记为以w查找过。本发明具有查找FPGA空白区域耗时少，效率高的优点，可用于基于FPGA的可重构系统中查找FPGA空白区域。

主权项

1. 一种基于扫描线方法的查找FPGA芯片空白区域的方法，包括如下步骤：A. 确定有效查找宽度集合步骤：(A1)给定FPGA最大关键元素MKE(i，j)，并从该最大关键元素向左查找，将所得到的连续空白单元数作为有效查找宽度w，加入到有效查找宽度集合中；(A2)在所给定的最大关键元素MKE(i，j)的上方单元中，依次向上找出一个连续空白单元数的递减序列添加到有效查找宽度集合当中，直到在FPGA中遇见上界或是已经被使用的单元为止；(A3)在所给定的最大关键元素MKE(i，j)的下方单元中，依次向下找出一个连续空白单元数的递减序列添加到有效查找宽度集合当中，直到在FPGA中遇见下界或是已经被使用的单元；B. 查找空白区域步骤：(B1)从有效查找宽度集合中选取一个没有查找过的有效查找宽度w进行查找；(B2)检查给定的最大关键元素MKE(i，j)是否被在同一扫描线SL中的其它最大空白矩形区域MER用有效查找宽度w进行查找过，如果是则停止查找，否则，以该最大关键元素MKE(i，j)所在位置为右垂直边界，分别向上和向下寻找有效查找宽度为w的连续空白区域，并将查找所遍历的扫描线上的单元标记为以有效查找宽度w查找过；(B3)重复步骤(B1)和(B2)直至有效查找宽度集合中的有效查找宽度w都被查找过为止。