[发明专利]系统测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 200810181220.3 申请日: 2008-11-14
公开(公告)号: CN101420723A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 韦玉珍 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04W36/00 分类号: H04W36/00;H04W36/14
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 尚志峰;吴孟秋
地址: 518057广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种系统测量方法及装置,该方法包括:在测量周期内,根据物理层上报的一个或多个空闲时间,在各个空闲时间内先后调度如下过程:BSIC重验证过程,用于对需要进行BSIC重验证的小区进行重验证;载波RSSI的测量过程,用于对小区的载波RSSI进行测量;解调BSIC过程,用于对小区进行初始同步。通过本发明,缩短了系统测量时间,进而缩短了系统间的重选时间而提高了系统的性能。
搜索关键词: 系统 测量方法 装置
【主权项】:
1. 一种系统测量方法,其特征在于,包括:在测量周期内,根据物理层上报的一个或多个空闲时间,在各个空闲时间内先后调度如下过程:BSIC重验证过程,用于对需要进行BSIC重验证的小区进行重验证;载波RSSI的测量过程,用于对小区的载波RSSI进行测量;解调BSIC过程,用于对小区进行初始同步。
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