[发明专利]孔的垂直度微力测量方法有效
| 申请号： | 200810141831.5 | 申请日： | 2008-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN101349539A | 公开（公告）日： | 2009-01-21 |
| 发明（设计）人： | 曹艳美;李振旗;张永红;陈珏然 | 申请（专利权）人： | 福群电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/305 | 分类号： | G01B7/305;G01B7/004 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 曾旻辉 |
| 地址： | 518129广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种孔的垂直度测量方法，本方法是基于三点确定一个圆的原理进行的。用两根固定探针和一根移动探针进行测量。三根探针进入孔内后，移动探针移动直至所有探针接触孔的内壁，记录此时三根探针的坐标值，根据三点确定一个圆的方法得出孔在该横截面的圆心坐标。调整探针进入圆孔的高度，重复上述方法可以得出孔在不同横截面的圆心坐标，从而得出孔的垂直度。本发明在测量横截面的圆心时，还可以旋转探针，变换测试角度，获得多次测试结果，取其综合值。本发明测试效率高，简单易行，适合批量检测。 | ||
| 搜索关键词： | 垂直 度微力 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种孔的垂直度微力测量方法，包含以下步骤：将三根球形探针伸入待测物的圆孔中，其中所述三根球形探针包括固定的第一探针、第二探针及活动的第三探针；测量所述圆孔第一横截面的第一圆心坐标；将三根球形探针沿所述圆孔的轴向移动；测量所述圆孔第二横截面的第二圆心坐标；根据所述第一圆心坐标与所述第二圆心坐标计算所述圆孔的垂直度。
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