[发明专利]接地电位交越检测与电源电位交越检测的检测电路无效

专利信息
申请号: 200810129869.0 申请日: 2008-08-14
公开(公告)号: CN101650382A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 傅明 申请(专利权)人: 新德科技股份有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是关于接地电位交越检测与电源电位交越检测的检测电路,所述的检测电路用以检测一通过接地电位的交越输入信号,所述的电路包含二个PMOS晶体管以及二个NMOS晶体管,且其相互连接的,PMOS晶体管具有连接至一电源电位的源极,相连接在一起的栅极,以及第二PMOS晶体管的漏极,第一NMOS晶体管具有一源极,做为一输入端以接收一输入信号,以及具有一漏极,做为一输出端,且所述的第二NMOS晶体管具有一源极接地,二NMOS晶体管的栅极相连接在一起,且共同与一偏电压相连接;若输入端设置于第一PMOS晶体管的源极,且第一NMOS晶体管的源极是接地的,则所述的电路亦能用来检测一通过电源电位的交越输入信号。本发明的电路仅由四个晶体管所构成大大减少电流消耗。
搜索关键词: 接地 电位 检测 电源 电路
【主权项】:
1.一种检测电路,用以检测交越一指定电压的输入信号,其特征在于,所述的检测电路包含:一第一PMOS晶体管、一第二PMOS晶体管、一第一NMOS晶体管以及一第二NMOS晶体管,其中所述的第一PMOS晶体管以及所述的第二PMOS晶体管皆具有一栅极,所述的二栅极皆与所述的第二PMOS晶体管以及所述的第二NMOS晶体管的漏极相连接,且所述的第一NMOS晶体管以及所述的第二NMOS晶体管亦皆具有一栅极,所述的二栅极皆连接于一BIAS电压,所述的第二NMOS晶体管的源极接地,而所述的第二PMOS晶体管的源极连接于一电源电位,所述的第一PMOS晶体管以及所述的第一NMOS晶体管的漏极连接于一输出端;以及当所述的指定电压为接地电位时,所述的第一NMOS晶体管的源极连接于所述的输入信号,且所述的第一PMOS晶体管的源极连接于所述的电源电位;当所述的指定电压为电源电位时,所述的第一NMOS晶体管的源极接地,且第一PMOS晶体管的源极连接于所述的输入信号。
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