[发明专利]物镜、光学测定装置有效
| 申请号： | 200810097144.8 | 申请日： | 2008-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN101308243A | 公开（公告）日： | 2008-11-19 |
| 发明（设计）人： | 冈部宪嗣 | 申请（专利权）人： | 三丰株式会社 |
| 主分类号： | G02B13/00 | 分类号： | G02B13/00;G02B27/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陶凤波 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种物镜和光学测定装置，显微镜的物镜(200)包括：与被测定物相对且透射被该被测定物(A)的测定面反射的光的透镜(222)、设置在透镜(222)的后段且把与透射透镜(222)的光的主光轴大致正交的光通过面中光通过孔的孔径进行变更的可变光阑(230)、能装卸地设置在具备把通过光通过孔的光进行成像的变焦距成像透镜的本体部的物镜转换器上且保持透镜(222)和可变光阑(230)的筒状本体部(210)。 | ||
| 搜索关键词： | 物镜 光学 测定 装置 | ||
【主权项】：
1、一种物镜，其特征在于，包括：透镜，其至少具有一个以上，该透镜与被测定物相对并且透射被所述被测定物的测定面反射的光；光圈机构，其设置在所述透镜的后段且把与透射所述透镜的光的主光轴大致正交的光通过面中所述光的通过范围进行变更；保持机构，其设置具有在把通过所述光通过面的光进行成像的成像部的本体部且保持所述透镜和所述光圈机构。
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