[发明专利]控制磁共振系统的方法

摘要

本发明涉及一种控制具有多个可单独控制的发送信道的磁共振系统的方法。为此提供有限数量的、分别与不同的、关于特定的检查情况参数定义的检查情况类对应的天线控制参数组。天线控制参数组对每个发送信道分别具有一个信道值或者信道值的组合，用其来定义通过相关发送信道发送的高频信号的相对振幅和相对相位。然后对要实施的磁共振测量采集分别对应于检查情况参数的当前检查情况参数值并基于此选择检查情况类。利用对应于选出的检查情况类的天线控制参数组来实施期望的磁共振测量。此外本发明还涉及用于产生检查情况类的集合的方法、用于实现这样的控制方法的天线控制装置以及具有相应天线控制装置的磁共振系统。

主权项

1.一种控制磁共振系统(1)对检查对象(P)内的至少一个特定立体区域进行磁共振测量的方法，其中，该磁共振系统(1)为了在包含该检查对象(P)的检查空间(4)中产生高频场而包括具有多个可单独控制的发送信道(H₁，H₂，...，H_n)的高频天线结构(5)，该方法具有步骤：a)提供有限数量的不同的天线控制参数组(APS，APS₁，APS₂，...APS_i，...，APS_n)，这些天线控制参数组分别与不同的、关于特定的检查情况参数(USP)定义的检查情况类(USK，USK₁，USK₂，...，USK_i，...，USK_n)相对应，在此所述天线控制参数组(APS，APS₁，APS₂，...APS_i，...，APS_n)对于一个检查情况类(USK，USK₁，USK₂，...，USK_i，...，USK_n)对每个发送信道(H₁，H₂，...，H_n)分别具有一个信道值或者信道值的组合，利用该信道值或者信道值组合来定义通过相关发送信道(H₁，H₂，...，H_n)发送的高频信号的相对振幅(a_1，1，a_1，2，a_1，3，a_2，1，a_2，2，a_2，3，a₁，a₂，...，a_n)和相对相位b)对要实施的磁共振测量采集分别对应于检查情况参数(USP)的当前检查情况参数值(USPW)；c)基于采集的当前检查情况参数值(USPW)选择一个检查情况类(USK，USK₁，USK₂，...，USK_i，...，USK_n)；d)利用对应于选出的检查情况类(USK，USK_i)的天线控制参数组(APS，APS_i)来实施期望的磁共振测量，其中，将高频信号(6)平行地通过各发送信道(H₁，H₂，...，H_n)以与所涉及的发送信道(H₁，H₂，...，H_n)相对应的天线控制参数组(APS，APS_i)的振幅(a_1，1，a_1，2，a_1，3，a_2，1，a_2，2，a_2，3，a₁，a₂，...，a_n)和相位发送到高频天线结构(5)中。