[发明专利]激光受光位置检测传感器和使用它的校平装置有效
| 申请号： | 200810085495.7 | 申请日： | 2008-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN101270984A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 片山康隆 | 申请（专利权）人： | 株式会社拓普康 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陶凤波 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种激光受光位置检测传感器，其具有：等间隔配置的相邻的受光元件(PDXi)经由电阻器(RXj)相互连接，且位于两端的受光元件分别与输出线(11a)、(11b)连接的受光元件列(11X)、(11Y)，受光元件列(11X)、(11Y)构成为在一个受光元件列的相互相邻的受光元件之间分别配置有另一个受光元件列的受光元件的复合配列体，各输出线分别与解析运算装置连接，解析运算装置在激光照射到任一个受光元件时，根据从各输出线得到的输出通过运算求出激光的受光位置。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 位置 检测 传感器 使用 平装 | ||
【主权项】：
1、一种激光受光位置检测传感器，其中，具备：至少两个受光元件列，其等间隔配置的相邻的受光元件经由电阻器相互连接，且位于两端的受光元件分别与输出线连接；解析运算装置，所述至少这两个受光元件列构成为复合配列体，该复合配列体在一个受光元件列的相互相邻的受光元件之间分别配置有另一个受光元件列的受光元件，所述输出线分别与所述解析运算装置连接，该解析运算装置在激光照射到任一个受光元件时，根据从所述各输出线得到的输出通过运算求出所述激光的受光位置。
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