[发明专利]可防止电磁干扰的测试治具及其测试方法有效
申请号: | 200810074324.4 | 申请日: | 2008-02-15 |
公开(公告)号: | CN101231307A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
发明(设计)人: | 詹家华;萧国忠;许智成;廖军达;黄俊源 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/18 | 分类号: | G01R1/18;G01R31/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种可防止电磁干扰的测试治具及其测试方法。该可防止电磁干扰的测试治具设置于自动测试机台,该测试治具主要包含壳体、电磁屏蔽材以及测试装置,该壳体具有底板、盖板及多个侧板,该盖板具有测试孔,该侧板具有第一表面及第二表面,该侧板设置于该底板的上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上,该电磁屏蔽材至少形成于该侧板的该第二表面,该测试装置设置于该容置空间内。由于该壳体为密闭装置且在该壳体内形成有该电磁屏蔽材,故放置于该测试装置内的电子元件可受到该壳体的保护,以阻隔测试时的外来电磁干扰,且由于该测试治具设置于该自动测试机台,取代已知人工测试,具有降低生产成本及提高产能的功效。 | ||
搜索关键词: | 可防止 电磁 干扰 测试 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种可防止电磁干扰的测试治具,其至少包含:壳体,其具有底板、盖板及多个侧板,该底板具有第一上表面及第一下表面,该盖板具有第二上表面、第二下表面及测试孔,该测试孔贯穿该第二上表面与该第二下表面,该侧板具有第一表面及第二表面,该侧板设置于该底板的该第一上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上;电磁屏蔽材,其至少形成于该侧板的该第二表面;以及测试装置,其设置于该容置空间内,该测试装置具有线路载板及插座,该插座电性连接该线路载板,且该盖板的该测试孔显露出该插座。
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