[发明专利]路径延迟故障测试向量压缩方法及装置

摘要

本发明实施例公开了一种路径延迟故障测试向量压缩方法及装置，采用路径延迟故障测试向量生成等效电路，根据故障激活和传播条件，将路径延迟故障等效为无扇出电路中的单固定型故障。根据电路拓扑结构，将电路划分为输入相关区域和输出相关区域并分别进行测试向量的动态压缩，采用基于扇出数的多目标路径延迟故障测试向量生成技术，在路径延迟故障测试向量生成过程中进行测试向量集合的动态压缩，得到高压缩比的路径延迟故障压缩测试向量集。本发明实施例提供的方法，在保证故障覆盖率为100％的基础上，可以在较短时间内获得很高的测试向量压缩比，为芯片测试提供了可靠的路径延迟故障测试方法。

主权项

1.一种路径延迟故障测试向量的压缩方法，其特征在于，该方法包括：A、输入测试电路中各路径的可测路径延迟故障构成的故障集以及测试电路的电路拓扑结构，对所述测试电路的每个原始输入分别计算输入相关区域；所述输入相关区域为与所述原始输入具有共同组合后继的所有原始输入；B、当所述原始输入的输入相关区域互不重叠时，将与所述原始输入相关路径的路径延迟故障对应的测试向量进行压缩，得到第一压缩测试向量集；对所述第一压缩测试向量集中各测试向量分别进行故障模拟，将故障模拟过程中测试出的路径延迟故障从所述故障集中删除；C、将所述故障集中剩余的路径延迟故障对应的测试向量进行压缩，得到第二压缩测试向量集；D、将所述第一压缩测试向量集和第二压缩测试向量集合并为压缩测试向量集。