[发明专利]一种永磁磁扰动无损检测方法与装置无效
申请号: | 200810047695.3 | 申请日: | 2008-05-09 |
公开(公告)号: | CN101281166A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 康宜华;孙燕华;邱晨 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种永磁磁扰动无损检测方法及装置;该方法将永磁体放置在距离被检测导磁构件表面0~100mm处,建立相互磁作场;将漆包铜或铝线环绕在永磁体上,如果漆包铜或铝线捕获到永磁体反馈的磁扰动变化,则被检测导磁构件表面存在缺陷,否则,被检测导磁构件表面不存在缺陷。本发明装置包括永磁体、漆包铜或铝线和信号采集与处理器;漆包铜或铝线环绕在永磁体上,信号采集与处理器由滤波器、放大器以及A/D转换器串联组成。本发明检测方法的检测敏感性与导磁构件表面缺陷的走向无关,可检测全方位的缺陷,且具有检测方法易于实现,对应的检测装置操作方便、结构简单、体重小、造价及能耗低的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 永磁 扰动 无损 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种永磁磁扰动无损检测方法,其步骤为:第1步、将永磁体放置在距离被检测导磁构件表面0~100mm处,建立相互磁作场;第2步、将漆包铜或铝线环绕在永磁体上,如果漆包铜或铝线捕获到永磁体反馈的磁扰动变化,则被检测导磁构件表面存在缺陷,否则,被检测导磁构件表面不存在缺陷。
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