[发明专利]检测装置的扫描头结构及其检测方法无效
| 申请号： | 200810042546.8 | 申请日： | 2008-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN101666615A | 公开（公告）日： | 2010-03-10 |
| 发明（设计）人： | 吴金来;杨智光 | 申请（专利权）人： | 上海中晶科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈 亮 |
| 地址： | 200233上海市漕*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测装置的扫描头结构及其检测方法，藉由将多个CCD阵列以不同高度设置于扫描头内，可在同一次扫描作动期间分别撷取多个独立的检测物影像以获得最佳检测影像进行影像比对，从而有效增加影像比对的精确性。本发明将多个CCD阵列以不同高度设置于扫描头内，使各个CCD聚焦范围不同故可以提高整体景深。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 扫描 结构 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测装置的扫描头结构，包含：一基座；第一线性光感测阵列；以及第二线性光感测阵列，其中该第一线性光感测阵列与该第二线性光感测阵列以不同高度并列设置于该基座内；该第一线性光感测阵列的焦距为其与一待测物的第一特征部的垂直距离；以及该第二线性光感测阵列的焦距为其与该待测物的第二特征部的垂直距离。
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