[发明专利]基于磁流体折射率改变检测磁场变化的装置无效
| 申请号： | 200810037409.5 | 申请日： | 2008-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN101281237A | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 狄子昀;陈险峰;刘婷 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02;G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;王桂忠 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于磁流体折射率改变检测磁场变化的装置，包括：第一光源输出装置、传输装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置。磁场测试装置中包括了折射率测试装置，电磁铁，长周期光纤光栅，以及磁流体样品。长周期光纤光栅置于装有磁流体的毛细管后，置于电磁铁的两个磁极中间。第一光源输出装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置之间使用传输装置连接，第一光源输出装置输出的光在传输装置内传播，经过磁场测试装置后光信号被第一接收检测装置接收。本发明在常温条件下实现了磁场作用下基于磁流体折射率改变从而检测磁场变化的装置，灵敏度极高，达到了0.0025nm/Gs，其工作范围可以从0Gs到1500Gs。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 流体 折射率 改变 检测 磁场 变化 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于磁流体折射率改变检测磁场变化的装置，包括：第一光源输出装置、传输装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置，其特征在于，所述磁场测试装置包括折射率测试装置、电磁铁、长周期光纤光栅以及磁流体样品，长周期光纤光栅置于装有磁流体的毛细管后，置于电磁铁的两个磁极中间，第一光源输出装置、磁场测试装置以及第一接收检测装置之间使用传输装置连接，第一光源输出装置输出的光在传输装置内传播，经过磁场测试装置后光信号被第一接收检测装置接收，折射率测试装置和磁流体样品连接在一起，以上所有部件之间的连接均通过光纤实现。
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