[发明专利]点灯测试机分类待测面板的等级之方法有效
| 申请号： | 200810028147.6 | 申请日： | 2008-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN101581677A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 王瑾;庄涂城 | 申请（专利权）人： | 深超光电（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 东莞市中正知识产权事务所 | 代理人： | 侯来旺 |
| 地址： | 518109广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明主要涉及一种点灯测试机分类待测面板的等级之方法，尤其是指一种对待测面板的等级进行快速分类的方法，其分类模式系第一模式及第二模式，点灯测试机分类时系择一使用第一模式或第二模式；当该点灯测试机系第一模式时，判断待测面板是否有缺陷，如无缺陷，则给予该待测面板最高等级，如有缺陷，输入待测面板的缺陷资讯并给予待测面板第一分类。当点灯测试机系第二模式时，判断待测面板的分类等级系第二分类或第三分类，如待测面板系第二分类时，让待测面板通过，如待测面板系第三分类时，输入待测面板的缺陷资讯，并让待测面板通过。 | ||
| 搜索关键词： | 点灯 测试 分类 面板 等级 方法 | ||
【主权项】：
1.一种点灯测试机分类待测面板的等级之方法，其特征在于，其包括下列步骤：选择一点灯测试机的分类模式为第一模式或第二模式；当该点灯测试机系第一模式；判断一待测面板是否有缺陷，如无缺陷，则给予该待测面板一最高等级，如有缺陷，输入该待测面板的缺陷资讯并给予该待测面板一第一分类；当该点灯测试机系第二模式；判断一待测面板的分类等级系第二分类或第三分类，如该待测面板系第二分类时，让该待测面板通过，如该待测面板系第三分类时，输入该待测面板的缺陷资讯，并让该待测面板通过。
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