[发明专利]多功能自动测试系统无效
申请号: | 200810024712.1 | 申请日: | 2008-04-29 |
公开(公告)号: | CN101571823A | 公开(公告)日: | 2009-11-04 |
发明(设计)人: | 陆益军 | 申请(专利权)人: | 神讯电脑(昆山)有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G01H17/00;G01J1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 21530*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种多功能自动测试系统,可广泛应用于测试时需要外部输入的电子设备测试,该多功能自动测试系统包括一接收模块,其与被测设备相互连接,用于接收被测设备输出的信号,并传送该信号给一处理模块;该处理模块用于对接收模块传送的信号进行处理,并实时进行将处理后的信号与系统预先输入的测试程序信息进行比较的操作,且反馈该操作结果给一显示模块;该显示模块显示测试结果,另外,该多功能自动测试系统还包括一存储模块,用于存储预先输入系统的测试程序信息,上述测试系统由系统自动控制测试,大大提高了测试效率,而且避免因人为原因产生的误判,提高了测试质量。 | ||
搜索关键词: | 多功能 自动 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种多功能自动测试系统,可广泛应用于测试时需要外部输入的电子设备测试,其特征在于:该多功能自动测试系统包括接收模块,其与被测设备相互连接,用于接收被测设备输出的信号,并传送该信号给处理模块;处理模块,该处理模块用于对接收模块传送的信号进行处理,并实时进行将处理后的信号与系统预先输入的测试程序信息进行比较的操作,且反馈该操作结果给一显示模块;显示模块,其与处理模块相互连接,用于接收处理模块反馈的结果,并显示该测试结果;存储模块,用于存储预先输入系统的测试程序信息。
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