[发明专利]光刻机曝光系统无效

专利信息
申请号: 200810020789.1 申请日: 2008-02-27
公开(公告)号: CN101231475A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 胡钰 申请(专利权)人: 芯硕半导体(中国)有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 合肥金安专利事务所 代理人: 金惠贞
地址: 230601安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及半导体制造领域,为一种光刻机曝光系统及其控制方法。它包括LED光源、曝光控制系统、上位机等,系统与上位机连接,上位机输出控制信号至空间图形发生器SLM,空间图形发生器SLM产生曝光图形,LED光源发出的光束经过光路组件A、空间图形发生器SLM、光路组件B、分束器、物镜后照射基片,光电探测器B检测分束器分出的光束信号并将输出送至曝光控制系统,曝光控制系统的输出送至驱动电路,驱动电路的输出送至LED光源以控制其输出光功率和曝光剂量。它克服了现有技术中曝光功率波动对曝光剂量的影响等问题,具有曝光剂量控制精度高、体积小、功耗低、无机械运动部件、反应迅速、寿命长、成本低等优点。
搜索关键词: 光刻 曝光 系统
【主权项】:
1.光刻机曝光系统,包括LED光源[1]、曝光控制系统[2]、驱动电路[3]、光电探测器A[4]、光电探测器B[5]、分束器[6]、光路组件A[7]、光路组件B[8]、空间图形发生器SLM[9]、物镜[10]、上位机[11],其特征在于:曝光控制系统[2]与上位机[11]连接,上位机[11]输出控制信号至空间图形发生器SLM[9],空间图形发生器SLM[9]产生曝光图形,LED光源[1]发出的光束经过光路组件A[7]、空间图形发生器SLM[9]、光路组件B[8]、分束器[6]、物镜[10]后照射基片[12],光电探测器A[4]检测LED光源[1]的输出光信号并将输出送至驱动电路[3],光电探测器B[5]检测分束器[6]分出的光束信号并将输出送至曝光控制系统[2],曝光控制系统[2]的输出送至驱动电路[3],驱动电路[3]的输出送至LED光源[1]以控制其输出光功率和曝光剂量。
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