[发明专利]一种电磁干扰扫描装置及方法有效
| 申请号: | 200810007267.8 | 申请日: | 2008-02-21 |
| 公开(公告)号: | CN101231319A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
| 发明(设计)人: | 马光明;严勇 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R29/08 |
| 代理公司: | 信息产业部电子专利中心 | 代理人: | 吴永亮 |
| 地址: | 518057广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种电磁干扰扫描装置及方法,其中所述方法包括:通过近场电磁干扰强度扫描和远场电磁干扰强度测试的自动切换,获取被测试对象的近场扫描结果和远场测试结果;根据进场扫描结果、远场测试结果以及预先存储的标准测试结果,定位对超标频点贡献最大的干扰源。本发明通过在近场电磁干扰强度扫描和远场电磁干扰强度测试之间进行自动快速切换,提高了电磁干扰源的定位效率。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 电磁 干扰 扫描 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电磁干扰扫描装置,其特征在于,包括:近场扫描单元、电磁干扰远场天线、计算控制单元、频谱分析单元、射频选择单元和接口单元,其中,所述近场扫描单元,用于对被测试对象进行近场电磁干扰强度扫描,并将获取的近场扫描单元的测试结果,经射频选择单元发送给频谱分析单元进行频谱分析;所述电磁干扰远场天线,用于对被测试对象进行远场电磁干扰强度测试,并将获取的远场电磁干扰远场天线的测试结果,经射频选择单元发送给频谱分析单元进行频谱分析;所述频谱分析单元,用于按照计算控制单元指定的测试参数对近场扫描单元和电磁干扰远场天线的测试结果进行频谱分析,并把频谱分析结果发送给计算控制单元;所述频谱分析结果包括近场扫描结果和远场测试结果;所述计算控制单元,用于控制射频选择单元进行近场扫描和远场测试的自动切换,同时根据从频谱分析单元得到的频谱分析结果和预先存储在计算控制单元中的电磁兼容标准数据,定位对超标频点或频段贡献最大的干扰源;所述射频选择单元,用于根据计算控制单元的控制,在近场扫描单元和电磁干扰远场天线之间进行自动切换;所述接口单元,用于作为射频选择单元和计算控制单元间的接口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司,未经中兴通讯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810007267.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:聚焦式直通真空集热器件
- 下一篇:作为微波频率互连的纳米管





