[发明专利]光学记录介质、制造光学记录介质的设备和方法以及记录/再现光学记录介质的数据的设备和方法无效
| 申请号： | 200780042551.2 | 申请日： | 2007-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN101542612A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | 权埈焕;黄盛凞;李坰根 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/007 | 分类号： | G11B7/007 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;马翠平 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光学记录介质、制造光学记录介质的设备和方法以及记录/再现光学记录介质的数据的设备和方法，所述光学记录介质分配有适合于高密度记录盘的容量的摆动地址，所述光学记录介质包括与光学记录介质上记录数据的记录单元块对应的摆动地址，其中摆动地址包括多个摆动地址单元，且每一摆动地址单元包括28比特的地址信息、8比特的辅助信息和24比特的奇偶校验信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 制造 设备 方法 以及 再现 数据 | ||
【主权项】：
1、一种通过记录/再现设备来执行的光学记录介质，所述光学记录介质包括：记录单元块，通过记录/再现设备在其上记录/再现数据；以及摆动地址，与记录单元块对应，该摆动地址包括多个摆动地址单元，其中，每一摆动地址单元包括指示记录单元块在光学记录介质上的地址的28比特的地址信息、8比特的辅助信息和24比特的奇偶校验信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200780042551.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电阻变化型存储装置
- 下一篇：制造磁记录介质的方法
