[发明专利]通过光学操作与功能化表面有关的颗粒进行表面作图

摘要

本发明提供了分析颗粒的表面性质的方法和装置。分析颗粒的表面性质的方法包括使第一个颗粒与对第一种化学物类具有特异性结合亲和性的第一个捕获区相结合，对第一个颗粒施加光学力，感应第一个颗粒对光学力的响应，以及使用感应到的响应来确定第一个颗粒表面上第一种化学物类的存在、不存在或量。该过程可以并行地重复，以测试多个颗粒。除了直接测试颗粒的表面性质之外，本方法可用于直接、间接和竞争性分析，以确定游离的或固定化的分析物的存在、不存在或数量。提供了带有具有亲合力的捕获区的流体盒，它们被调整以使用光学力。还提供了执行该方法的软件程序。

主权项

1.分析一个或多个各具有表面的颗粒的表面性质的方法，该方法包括：将具有多个颗粒的悬浮液引入到具有至少一个捕获区的样品容器中，所述捕获区对化学物类具有给定亲和性；使多个颗粒中的至少一部分与至少一个捕获区相接触，以允许在该至少一个捕获区和该至少一部分颗粒之间发生结合相互作用，所述结合相互作用与颗粒的表面组成相关；将光学力同时施加到该至少一部分颗粒中的至少两个上，该力倾向于引起颗粒的响应，其中所述响应依赖于颗粒和至少一个捕获区之间的结合相互作用的存在、不存在或程度；感应至少两个颗粒对光学力的响应；使用感应到的响应来确定位于颗粒表面和捕获区之间的化学物类的存在、不存在或量。