[发明专利]光学层析术系统中的移位检测无效
| 申请号： | 200780033124.8 | 申请日： | 2007-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN101511262A | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | W·P·范德布鲁格 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘 鹏;刘 红 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及用于对不透明介质的内部成像的方法(1)，该方法包括以下步骤：a)在接纳体积中容纳(3)所述不透明介质，所述接纳体积包括光入射位置以及光出射位置；b)使用光入射位置利用来自光源的光照射(5)所述不透明介质；c)使用光电检测器单元使用光出射位置检测(10)作为照射所述不透明介质的结果的从所述接纳体积中发出的光；d)使用从所述接纳体积中发出的光检测(15，17)所述不透明介质的出界移位。为此目的，本发明提出了若干检测所述不透明介质的出界移位的方法，其基于比较与从单个出射位置和所述接纳体积发出的光有关的至少两个信号。本发明还涉及用于对不透明介质(90)的内部成像的设备(45)以及医疗图像采集设备(105)，两者都采用所述方法。依照本发明，调节用于对不透明介质(90)的内部成像的设备(45)和所述医疗图像采集设备，使得依照所述方法及其依照本发明的实施例它们还包括移位检测装置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 层析 系统 中的 移位 检测 | ||
【主权项】：
1. 一种用于对不透明介质(90)的内部成像的方法(1)，包括以下步骤：a)在接纳体积(60)中容纳(3)所述不透明介质(90)，所述接纳体积包括至少一个光入射位置(70a)以及至少一个光出射位置(70b)；b)使用所述至少一个光入射位置(70a)利用来自光源(50)的光照射(5)所述不透明介质(90)；c)使用光电检测器单元(55)使用所述至少一个光出射位置(70b)检测(10)作为照射(5)所述不透明介质(90)的结果的从所述接纳体积(60)中发出的光；d)使用从所述接纳体积(60)中发出的光检测(15，17)所述不透明介质(90)的出界移位。
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