[发明专利]补偿分析物分析中系统延迟的系统和方法无效
申请号: | 200780030619.5 | 申请日: | 2007-08-15 |
公开(公告)号: | CN101523197A | 公开(公告)日: | 2009-09-02 |
发明(设计)人: | C·米勒 | 申请(专利权)人: | RIC投资有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;B01J19/12 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 韩 宏 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种配置为确定与气体中的一个或多个气态分析物相关的信息的系统(10)包括可发光材料(16)、一个或多个发射器(12)、一个或多个光敏探测器(14)和处理器(18)。发射器(12)将已调幅的电磁辐射(13)发射到可发光介质(16)上,所述可发光介质(16)与气体联通以导致所述可发光介质(16)发光。光敏探测器(14)接收由可发光介质(16)的发光所产生的已调幅的电磁辐射(26)并且产生一个或多个输出信号,至少一个输出信号指示所接收的电磁辐射(26)的强度。处理器(18)接收输出信号并且确定与气体中的一个或多个气态分析物相关的信息。确定与一个或多个气态分析物相关的信息可以包括补偿作为所接收的电磁辐射(26)的强度的函数而改变的延迟。 | ||
搜索关键词: | 补偿 分析 系统 延迟 方法 | ||
【主权项】:
1、一种配置为确定与气体中的一个或多个气态分析物相关的信息的系统(10),所述系统(10)包括:与气体联通的可发光介质(16);一个或多个发射器(12),被配置为将已调幅电磁辐射(13)发射到所述可发光介质(16)上,其中所发射的已调幅电磁辐射(13)导致所述可发光介质(16)中的发光;光敏探测器(14),被配置为接收由所述可发光介质(16)的发光所产生的已调幅电磁辐射(26),其中所述光敏探测器(14)响应于所接收的已调幅电磁辐射(26)来产生一个或多个输出信号,所述输出信号指示所接收的已调幅电磁辐射(26)的强度;以及处理器(18),其适于接收由所述光敏探测器(14)产生的所述一个或多个输出信号并且适于基于所发射的已调幅电磁辐射(13)的幅度调制与所接收的已调幅电磁辐射(26)的幅度调制之间的相位差来确定与所述气体中的一个或多个气态分析物相关的信息,其中所述处理器(18)适于补偿由所述光敏探测器(14)在产生所述一个或多个输出信号中产生的延迟,当确定与所述一个或多个气态分析物相关的所述信息时,所述补偿作为所接收的已调幅电磁辐射(26)的所述强度的函数而改变。
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