[发明专利]表面被覆工具无效

专利信息
申请号: 200780008368.0 申请日: 2007-03-26
公开(公告)号: CN101400465A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: 朱耀灿;野田谦二;松泽正人 申请(专利权)人: 京瓷株式会社
主分类号: B23B27/14 分类号: B23B27/14;C04B35/583;C23C14/06;C23C14/34
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种表面被覆工具,其特征在于,在基体表面具备两层层叠由下述通式(1)表示的被覆层而成的硬质被覆层,在所述被覆层中,被覆于所述基体的表面的第1被覆层,层厚为0.1~1μm,由平均晶粒直径为0.01~0.1μm的粒状结晶构成,在所述被覆层中,被覆于所述第1被覆层的表面的第2被覆层,层厚为0.5~10μm,由相对于所述基体在垂直方向上成长的柱状结晶构成,该柱状结晶的相对于所述基体在平行方向的平均结晶宽度为0.05~0.3μm,并且所述第2被覆层的平均结晶宽度比所述第1被覆层的平均晶粒直径大,M1-aAla(CbN1-b)…(1)式中,M是表示从元素周期表第4、5、6族元素,Si和稀土类元素中选出的至少一种金属元素,a满足0.25≤a≤0.75的关系式,b满足0≤b≤1的关系式。
搜索关键词: 表面 被覆 工具
【主权项】:
1、一种表面被覆工具,其特征在于,在基体表面具备两层层叠由下述通式(1)表示的被覆层而成的硬质被覆层,在所述被覆层中,被覆于所述基体表面的第1被覆层,层厚为0.1~1μm,由平均晶粒直径为0.01~0.1μm的粒状结晶构成,在所述被覆层中,被覆于所述第1被覆层的表面的第2被覆层,层厚为0.5~10μm,由相对于所述基体在垂直方向上成长的柱状结晶构成,该柱状结晶的相对于所述基体在平行方向的平均结晶宽度为0.05~0.3μm,并且所述第2被覆层的平均结晶宽度比所述第1被覆层的平均晶粒直径大,[数2]M1-aAla(CbN1-b)…(1)式中,M表示从元素周期表第4、5、6族元素,Si和稀土类元素中选出的至少一种金属元素,a满足0.25≤a≤0.75的关系式,b满足0≤b≤1的关系式。
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