[实用新型]探针构造无效
| 申请号： | 200720151806.6 | 申请日： | 2007-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN201141878Y | 公开（公告）日： | 2008-10-29 |
| 发明（设计）人： | 王邓盛 | 申请（专利权）人： | 曾惠清 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京恒久联达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 徐雪琦 |
| 地址： | 523648广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种探针构造，其系利用偏心之导电探针及不同缠绕情形之弹簧形成一探针构造，使导电探针与导电套筒的接触面积增加，降低电阻及提高电讯传输效率。本实用新型之探针构造使导电探针在芯片BGA制程中量测线路导通与否时，因电子讯号的有效传输，进而达到准确量测的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 构造 | ||
【主权项】：
1、一种探针构造，其特征在于该探针构造包含：一导电套筒，其一端具有一开口，该开口具有一挡缘；一导电探针，其部份设于该导电套筒内，该导电探针的一端系为一圆锥或一斜面，该圆锥的顶点非在该导电探针的中心联机，该斜面与该导电探针的中心线非正交且非平行，该导电探针的两端之间具有一抵制部；一弹簧，其设于该导电套筒内，该弹簧的一端顶抵于该导电套筒之内壁，该弹簧的另一端顶抵该圆锥或该斜面且该挡缘挡制该抵制部，使部分该导电探针与该导电套筒之内壁接触，且使该导电探针的另一端突出于该开口。
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