[实用新型]一种便于老化测试的有机电致发光器件无效
| 申请号： | 200720058814.6 | 申请日： | 2007-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN201119046Y | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 赵伟明;谭国良;向桂华;杨明生;刘惠森 | 申请（专利权）人： | 东莞彩显有机发光科技有限公司;东莞宏威数码机械有限公司 |
| 主分类号： | H05B33/12 | 分类号： | H05B33/12;H05B33/10;H05B33/04;H05B33/26 |
| 代理公司： | 东莞市新南方专利商标事务所 | 代理人： | 王敏 |
| 地址： | 523656广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子显示器件的技术领域，特指一种便于老化测试的有机电致发光器件的结构设计。本实用新型器件包括：基片、后盖以及位于基片和后盖之间的多个发光单元；后盖相对于基片形成一个或两个缺边(上方或下方)，该缺边位置的基片上是用于老化测试的正、负电极，每个发光单元中每个像素点的正、负电极引线分别汇集于该对应的正、负电极上。本实用新型在制造时，首先把设计有上述的老化测试电极的一个整块玻璃成品分切成长条状，再将后盖中与该器件的电极重迭的地方切掉，将引线及电极显露出来。老化时直接接通这些汇集的电极就可以接通发光单元中的每个像素点，从而实现对器件中每个发光单元的同时老化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 便于 老化 测试 有机 电致发光 器件 | ||
【主权项】：
1、一种便于老化测试的有机电致发光器件，包括：基片(1)、后盖(2)以及位于基片(1)和后盖(2)之间的多个发光单元(3)，其特征在于：后盖(2)相对于基片(1)形有一个缺边(21)，位于该缺边(21)位置的基片(1)上对应每个发光单元(3)形成有用于老化测试的正、负电极(4、5)，每个发光单元(3)中每个像素点的正、负极连线分别汇集于该对应的正、负电极(4、5)上。
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