[实用新型]温度测试治具无效
| 申请号： | 200720033443.6 | 申请日： | 2007-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN201014965Y | 公开（公告）日： | 2008-01-30 |
| 发明（设计）人： | 江大阳 | 申请（专利权）人： | 汉达精密电子(昆山)有限公司 |
| 主分类号： | G01K1/14 | 分类号： | G01K1/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 21530*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种温度测试治具，其适用于固定若干探头，以测试一被测物上若干被测点处的温度；该温度测试治具包括一基板，该基板上设有若干穿孔；这些穿孔内分别穿设有若干支座，且这些支座分别包括一套轴，这些套轴的端部分别设有一限位部，这些限位部的顶部分别固定一探头；这些套轴外分别套设有一弹性元件，且这些弹性元件的一端分别抵持于限位部内侧，而这些弹性元件的另一端分别抵持于基板表面。温度测试治具通过多个支座将多个探头加以固定，测试时，将被测物在重力或下压力的作用下压靠于温度测试治具上方，并使各个探头正对着各个被测点的位置，即可实现探头与被测点之间的弹性接触，以省去手动粘接探头的程序，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测试 | ||
【主权项】：
1.一种温度测试治具，适用于固定若干探头，以测试一被测物上若干被测点处的温度；其特征在于包括；一基板，其上设有若干穿孔；若干支座，分别包括一套轴，这些套轴分别穿设于穿孔内，且这些套轴的端部分别设有一限位部，这些限位部的顶部分别固定一探头；若干弹性元件，分别套设于套轴外，且这些弹性元件的一端分别抵持于限位部内侧，而这些弹性元件的另一端分别抵持于基板表面。
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