[实用新型]高精度激光粒度分析仪无效

专利信息
申请号: 200720019430.3 申请日: 2007-03-15
公开(公告)号: CN201016915Y 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 刘文宾 申请(专利权)人: 刘文宾
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N21/47
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 代理人: 李桂存
地址: 250100山东省济南市历下区华*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型涉及一种利用激光散射测量微粒直径的高精度激光粒度分析仪,包括激光器、平面反射镜、扩束镜、傅立叶变换透镜、光电池阵列、光学导轨、样品窗、循环泵、电磁阀、以及位于样品窗的一侧的10-70个辅助探测器,样品窗固定在傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上,其特别之处在于:所述的扩束镜与傅立叶变换透镜通过一密封的外壳固定在一起,使光路系统稳定性更好。本实用新型的有益效果是,一是增加了光路的稳定性,使用方便。二是避免了外部光线进入,提高了测量的准确性。三是安装方便,避免了安装或调节误差。四是扩大了测量范围,提高了测量精度。
搜索关键词: 高精度 激光 粒度 分析
【主权项】:
1.一种高精度激光粒度分析仪,包括激光器(1)、平面反射镜(2、3)、扩束镜(4)、傅立叶变换透镜(5)、光电池阵列(7)、光学导轨、样品窗(6)、循环泵、电磁阀、以及位于样品窗的一侧的10-70个辅助探测器(8),样品窗固定在傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上,其特征在于:所述的扩束镜(4)与傅立叶变换透镜(5)通过一密封的外壳(9)固定在一起。
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