[发明专利]用于提高互感器准确度的设备及方法有效
| 申请号： | 200710302216.3 | 申请日： | 2007-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101231312A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 拉德克·亚沃拉;彼得·克拉尔 | 申请（专利权）人： | ABB技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/32 | 分类号： | G01R19/32;G01R21/14;G01R15/06 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李德山;潘士霖 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 用于提高互感器准确度的设备及方法，其中计算与电导体的相关的一个或多个电参数。另外，计算与影响所述电参数的测量的一个或多个干扰因素如温度、串扰效应相关的信号。校正单元存储与所计算的干扰因素的不同的值相对应的多个校正系数。将这些系数应用到电参数的计算值以提高测量的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提高 互感器 准确度 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种设备，用于测量电导体的至少第一相(6)的至少一个电参数，其特征在于该设备包括：-电子单元(2)；-检测装置(50)，用于向所述电子单元(2)提供表示所述至少一个电参数的值的信号以及表示至少一个干扰因素的值的信号，其中所述至少一个干扰因素影响表示所述至少一个电参数的值的所述信号，所述电子单元(2)基于所提供的信号计算所述至少一个电参数的值以及所述至少一个干扰因素的值；以及-校正单元(7)，该校正单元(7)可操作地与所述电子单元(2)耦合，且具有与所述至少一个干扰因素的值相对应的多个预先存储的校正系数，其中基于所述至少一个干扰因素的计算值，将所述校正系数应用于所述至少一个电参数的计算值。
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