[发明专利]一种测试智能卡可靠性的方法有效
| 申请号： | 200710163658.4 | 申请日： | 2007-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN101413986A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 永福;吴彩峰 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 10001*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明针对智能卡在生产、制造和使用过程中，数据异常丢失或者功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)实施加速老化测试方法对卡片进行测试；(3)测试完成后，检验测试卡的功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。本发明提出的智能卡的测试方法，对智能卡可靠性进行严格地考核，能够提前发现产品由于芯片系统设计不足而引起的制造过程成品率降低的问题，以及克服在使用环境中智能卡的数据易丢失等缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 智能卡 可靠性 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于所述方法，包括以下步骤：(1)生成测试卡；(2)通过实施老化测试方法对卡片进行测试；(3)测试完成后，检验测试卡的电性能和功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。
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