[发明专利]用于接触检测件的接触装置及接触检测件的方法有效
| 申请号： | 200710162079.8 | 申请日： | 2007-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN101191800A | 公开（公告）日： | 2008-06-04 |
| 发明（设计）人： | 赖纳·施密德;乌尔里希·高斯 | 申请（专利权）人： | 精炼金属股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 德国海伦堡齐*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于接触待检测电子检测件(25)，尤其是设有镀锡触点的检测件(25)的接触装置(1)，具有至少两个带有缺口(16，17，18，19)的导向元件(2，3，4，5)，通过所述接触元件(20)本质上沿轴向延伸，所述接触元件(20)在分配的导向元件(5)的向所述检测件(25)的面上从该面突出以接触所述检测件(25)。规定所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距或者移向所述检测件(25)的导向元件(5)的轴向位置能够被校准以适应所述突出长度(H)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 接触 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于接触待检测的电子检测件(25)，尤其是设有镀锡触点的检测件(25)的接触装置(1)，具有至少两个带有缺口(16，17，18，19)的导向元件(2，3，4，5)，通过所述的缺口，接触元件(20)本质上沿轴向延伸，所述接触元件(20)在分配的导向元件(5)的移向所述检测件(25)的面上从该面突出以接触所述检测件(25)，其特征在于，能够校准所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距或者移向所述检测件(25)的导向元件(5)的轴向位置以适应突出长度(H)。
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