[发明专利]晃动校正装置、光学仪器以及晃动校正装置的制造方法无效

专利信息
申请号: 200710151336.8 申请日: 2007-09-25
公开(公告)号: CN101154012A 公开(公告)日: 2008-04-02
发明(设计)人: 大坂清二;宫本英典 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: G03B5/00 分类号: G03B5/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 雒运朴;李伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种晃动校正精度高的晃动校正装置、光学仪器以及晃动校正装置的制造方法。将晃动校正装置(10)构成为包括:传感器(61x)、(61y),其对在晃动校正时在垂直于光轴的平面内可相对移动的第一部件(40)以及第二部件(30)的相对移动进行检测;可弯曲性部件(70),其具有配置在垂直于第一部件(40)的光轴的一个面上且对传感器(61x)、(61y)进行搭载的搭载部(70xc)、(70yc)以及从搭载部(70xc)、(70yc)弯曲的弯曲部(70xb)、(70yb)。在搭载部(70xc)、(70yc)中的传感器(61x)、(61y)的外侧设置切缺部(71x)、(71y)。
搜索关键词: 晃动 校正 装置 光学仪器 以及 制造 方法
【主权项】:
1.一种晃动校正装置,其特征在于,包括:第一部件以及第二部件,其相互相对地配置,在进行晃动校正时,可相互相对地移动;以及布线部件,其在上述第一部件和上述第二部件之间,施加与上述第一部件和上述第二部件的相对移动方向相交叉的方向的力。
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