[发明专利]一种大规模集成电路测试数据与测试功耗协同优化的方法

摘要

一种大规模集成电路测试数据与测试功耗协同优化的方法。它涉及大规模集成电路的技术领域，是针对目前SOC测试技术中还没有能有效地同时降低测试数据量和测试功耗的方法而提出的。它的方法步骤为：分析电路内扫描单元相容性，将其分为三类；将各类中的扫描单元分别连接，构建带有“复制”机制的扫描链；根据新的扫描链结构调整测试向量集；采用基于重复性数据压缩的方法对测试集进行压缩，得到压缩后的测试集T_E。进行测试时，压缩后的数据经解压缩电路被完全恢复，进行测试。本发明是一种集成电路的可测性设计方法；能降低电路在测试期间产生的功耗，因而保证其可靠性和可测性；能有效降低测试数据量，降低测试时间，减少ATE通道数量。

主权项

1.一种大规模集成电路测试数据与测试功耗协同优化的方法，其特征在于该方法的步骤为：步骤一：将测试集TD＝{t1，t2，…tn}表示为一个二维矩阵，每一行代表一个测试向量，共n个测试向量，每一列代表一个扫描单元依次被赋的值，共S个扫描单元；计算测试集中列向量之间的相容性，即各个扫描单元之间的相容性；步骤二：采用基于孤立点与2-完全点优先合并原则的团划分方法将扫描单元划分为K1、K2、K3三类团，每个团内的扫描单元是完全相容的，对于属于K1类的团，每个团仅包含一个扫描单元，对于属于K2类的团，每个团仅包含两个扫描单元，对于属于K3类的团，每个团内包含三个扫描单元，最终有A个扫描单元划入K1类团，有B个扫描单元划入K2类团，有C个扫描单元划入K3类团；步骤三：将K1、K2、K3类团中的扫描单元分别连接，形成三类带有“复制”机制的扫描链；第一类扫描链与普通扫描链一样，仅将各个扫描单元串行连接；第二类扫描链实质上是一个扫描链组，由两条扫描链并联而成，每条扫描链分别由各个扫描单元串行连接而成，其中第一条扫描链的扫描输入端作为这类扫描链的扫描输入端(Scan_in)，第一条扫描链的扫描输出端作为这类扫描链的扫描输出端1(Scan_out 1)，第二条扫描链的扫描输出端作为这类扫描链的扫描输出端2(Scan_out 2)；在这类扫描链结构中，两条扫描链上相同位置的扫描单元是属于一个团的，并且这个团属于K2类团，相同位置的两个相容扫描单元之间用一个三态门连接，并且所有三态门的使能端连接在一起，作为该类扫描链的复制操作(copy)的控制端；在实际测试时，扫描移入过程首先在第一条扫描链上进行，第一条扫描链获得测试数据；随后，控制copy端执行“复制”操作，即所有三态门使能，从而第二条扫描链获得了与第一条扫描链相同的测试数据；扫描移出过程则分别在两条扫描链上进行；第三类扫描链实质上也是一个扫描链组，由三条扫描链并联而成，每条扫描链都是由各个扫描单元串行连接而成的，其中一条扫描链的扫描输入端作为这类扫描链的扫描输入端(Scan_in)，第一条扫描链的扫描输出端作为这类扫描链的扫描输出端1(Scan_out 1)，第二条扫描链的扫描输出端作为这类扫描链的扫描输出端2(Scan_out 2)，第三条扫描链的扫描输出端作为这类扫描链的扫描输出端3(Scan_out 3)；在这类扫描链结构中，三条扫描链上相同位置的扫描单元是属于一个团的，并且这个团属于K3类团，相同位置的三个相容扫描单元之间用两个三态门连接，并且所有的三态门的使能端连接在一起，作为该类扫描链的复制操作(copy)的控制端；在实际测试时，扫描移入过程首先在一条扫描链上进行，该条扫描链获得测试数据；随后，控制copy端执行“复制”操作，即所有三态门使能，从而另外两条扫描链获得了与第一条扫描链相同的测试数据；扫描移出过程则分别在三条扫描链上进行；步骤四：根据扫描链结构的变化调整测试向量集；步骤五：采用基于重复性数据压缩的方法对测试集中的重复性数据进行压缩，得到最终压缩后的测试集TE；步骤六：进行测试时，压缩后的测试数据经过一个解压缩电路被完全恢复出来，然后进入被测电路中的各条扫描链进行测试。