[发明专利]一种硬盘磁头的读写头偏移参数表的测量方法无效
| 申请号： | 200710124943.5 | 申请日： | 2007-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN101452710A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 孙燕翔 | 申请（专利权）人： | 深圳易拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/84 | 分类号： | G11B5/84;G11B27/36;G11B5/455 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈俊斌 |
| 地址： | 518035广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硬盘磁头的读写头偏移参数表的测量方法，包括以下步骤：A、通过测量得到硬盘盘片上至少两处磁轨的读写头偏移参数；B、根据此两处磁轨的读写头偏移参数，计算得到各个分区的起始轨、结束轨的读写头偏移参数，得到读写头偏移参数表，写入硬盘。由于磁盘上磁轨的读写头偏移参数与各个分区的起始轨、结束轨的读写头偏移参数之间的关系可以通过几何关系计算得出，在测试时，只需测两处磁轨的读写头偏移参数，即只需要分别读写两次，计算后即可得到各个分区的起始轨、结束轨的读写头偏移参数，而在计算机中进行计算的时间比磁头的读写测量的时间小得多。使用这种测量方法，只需要对硬盘进行少量的读写操作即可，节省了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硬盘 磁头 读写 偏移 参数表 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种硬盘磁头的读写头偏移参数表的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：A：通过测量得到硬盘盘片上至少两处磁轨的读写头偏移参数；B：根据此两处磁轨的读写头偏移参数，计算得到各个分区的起始轨、结束轨的读写头偏移参数，得到读写头偏移参数表，写入硬盘。
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