[发明专利]在测试电路组件节点间短路时使用超节点的方法和设备

摘要

本发明公开了一种测试电路组件节点间短路的方法，其包括解析电路设计数据以识别电路组件的节点的位置数据，以及使用位置数据将其中一些节点分类为一超节点的成员，其中超节点的每个成员不可能与其他任何成员短路。然后通过反复执行i)对包括超节点和电路组件的多个其他节点在内的一组节点中的一特定节点进行激励，和ii)在激励所述特定节点的同时将所述一组节点中至少一个其他节点接地，并监视流经所述特定节点的电流，从而对所述一组节点中的短路进行测试。当对超节点进行激励或接地时，所有作为所述超节点成员的节点都被激励或接地。如果通过被激励的节点之一检测到了电流，则指示电路组件有缺陷。还公开了其他实施例。

主权项

1.一种用于测试电路组件中的短路的方法，该方法包括：对电路设计数据进行解析，以识别电路组件的节点的位置数据；使用所述位置数据，将所述节点中的一些节点分类为一超节点的成员，其中所述超节点的每个成员不可能与所述超节点的其他任何成员短路；对一组节点中的短路进行测试，所述的一组节点包括所述超节点和所述电路组件的多个其他节点，所述测试是通过反复地执行以下操作来进行的：i)对所述一组节点中的一个特定节点进行激励，以及ii)在对所述一组节点中的所述一个特定节点进行激励的同时，将所述一组节点中的至少一个其他节点接地，并监视流经所述一组节点中的所述一个特定节点的电流，其中对所述超节点进行激励或接地包括对所有作为所述超节点成员的节点进行激励或接地；以及如果通过所述被激励的节点之一检测到了电流，则指示所述电路组件有缺陷。