[发明专利]用于控制磁共振系统的方法

摘要

本发明涉及控制MR系统以实施磁共振检查的方法，其中a)激励高频天线的第一发送模式而获得代表高频场分布的测量值分布，b)就评估判据来评估所述测量值分布的均匀性，若满足评估判据，就用第一发送模式实施所期望的磁共振检查，若不满足所述评估判据，则c)激励另一发送模式而获得代表高频场分布的测量值分布，d)根据到目前为止所测量的测量值分布的组合来计算就均匀性被优化的测量值分布，e)就特定评估判据对所计算的优化测量值分布的均匀性进行评估，如果满足所述评估判据，那么根据在步骤d)中所计算的优化测量值分布获得发送参数组，并利用该发送参数组实施磁共振测量，若不满足评估判据，就利用另一发送模式重复步骤c)至e)。

主权项

1.用于控制一种磁共振系统(1)以在一个检查对象(0)中的至少一特定体积范围中实施磁共振测量的方法，其中所述磁共振系统(1)包含有具有多个共振单元(6)的一个高频天线(5)，该共振单元在不同的发送模式(M1、M2、M3、M4、...)中可以被激励以在包括所述检查对象(0)的一个检查体积(4)中产生线性无关的高频场分布，其具有以下方法步骤：a)在激励所述高频天线(5)的一个第一发送模式(M1)的情况下，在所述特定体积范围中获得代表所述高频场分布的一个测量值分布(F1)，b)在所述特定体积范围中就一特定评估判据来对所述测量值分布(F1)的均匀性进行评估，并且，如果满足所述评估判据，那么就利用所述第一发送模式(M1)来实施所期望的磁共振测量，或者，如果不满足所述评估判据，那么c)在激励所述高频天线(5)的另一发送模式(M2、M3、M4、...)的情况下，在所述特定体积范围中获得代表所述高频场分布的一个测量值分布(F2、F3、F4、...)，d)根据到目前为止为所述不同发送模式(M1、M2、M3、M4、...)所测量的测量值分布(F1、F2、F3、F4、...)的一个组合，来计算在所述特定体积范围中就均匀性而被优化的一个测量值分布(FK)，e)就所述特定评估判据对在所述特定体积范围中所计算的优化测量值分布(FK)的均匀性进行评估，并且，如果满足所述评估判据，那么根据在步骤d)中所计算的优化测量值分布(FK)来获得一个优化的发送参数组(PS0)，并利用所述的优化发送参数组(PS0)来实施所期望的磁共振测量，或者，如果不满足所述评估判据，那么就利用另一发送模式(M2、M3、M4、...)来重复步骤c)至e)。