[发明专利]使用共用的测试器通道检验各探针接触

摘要

检验多个电路管芯的焊盘与测试装置之间的良好电接触，其中测试装置驱动器通道并行连接到电路管芯上的相应接触上。多个驱动器通道中的每一个连接到多个电路管芯中的每一个上的多个接触中的相应接触上，以便在多个电路管芯中的每一个上的相应接触之间共用每个驱动器通道。每个芯片上的逻辑电路将多个接触中的每一个连接到至少一个指定接触上，以便当电压被施加到多个接触中的一个接触上时通过至少一个指定接触从器件输出与多个接触中的一个接触上的电压对应的电压。在驱动器通道上施加电压，评估与电路管芯上的多个接触连接的每个电路管芯的指定接触上的电压，以确定驱动器通道管脚或端子与多个电路管芯中的每一个上的相应接触之间是否实现了接触。

主权项

1.一种用于在测试装置或探针卡与多个电路管芯的各个接触之间并行地进行连通性测试的方法，包括：a.将多个测试装置驱动器通道中的每一个连接到所述多个电路管芯中的每一个上的多个接触中的相应接触上，以便在所述多个电路管芯中的每一个上的相应接触之间共用每个测试装置驱动器通道；b.将多个电路管芯中的每一个上的指定接触连接到多个接触上；c.将所述测试装置的多个输入/输出通道中的每一个连接到所述多个电路管芯中的相应电路管芯的指定接触上，以便测试装置的每个输入/输出通道连接到所述多个电路管芯中的不同电路管芯的指定接触上；以及d.在将电压施加在测试装置驱动器通道上时评估多个电路管芯中的每个电路管芯的指定接触上的电压，以确定在测试装置驱动器通道与所述多个电路管芯中的每一个上的相应接触之间是否实现了接触。