[发明专利]传感器元件、磁性粒子的检测方法及目标物质的检测方法有效
| 申请号： | 200710091733.0 | 申请日： | 2007-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101046464A | 公开（公告）日： | 2007-10-03 |
| 发明（设计）人： | 池田贵司 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72;G01N33/53 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 朱智勇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及传感器元件、磁性粒子的检测方法及目标物质的检测方法。传感器装置被配置为使用具有作为磁场传感器的功能并能够通过电流的施加在传感器表面上产生用于收集磁性粒子的磁场的传感器元件。结果，可提供可在传感器上有效收集用作标记的磁性粒子同时可减轻用于收集磁性粒子的磁场对传感器的影响的传感器装置。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 元件 磁性 粒子 检测 方法 目标 物质 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测磁性粒子的传感器装置，包括：具有用于检测磁性粒子的检测表面并能够通过电流的施加产生用于在检测表面上收集磁性粒子的磁场的传感器元件；用于使电流流向传感器元件的电流施加单元；和用于获得检测表面上的磁场的变化作为电输出信号的信号取出单元。
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