[发明专利]图案形成方法无效
申请号: | 200710087851.4 | 申请日: | 2004-06-24 |
公开(公告)号: | CN101025577A | 公开(公告)日: | 2007-08-29 |
发明(设计)人: | 三坂章夫 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F1/14;H01L21/027 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及使用光掩模的图案形成方法,其包括:在基板上形成保护膜的工序;通过光掩模,对保护膜照射曝光光的工序;以及将被曝光光照射过的保护膜显影,形成保护膜图案的工序。光掩模,在透过性基板上具有:对曝光光有遮光性的半遮光部;被半遮光部包围、而且对曝光光有透光性的透光部;以及被半遮光部包围、且位于透光部周边的辅助图案。辅助图案,配置在与透过透光部的光能形成干涉的距离,半遮光部及透光部以彼此相同的相位使曝光光透过,辅助图案,以半遮光部及透光部为基准,用相反的相位使曝光光透过,且不被曝光光复制。 | ||
搜索关键词: | 图案 形成 方法 | ||
【主权项】:
1、一种图案形成方法,是使用光掩模的图案形成方法,其特征在于,包括:在基板上形成保护膜的工序a;通过所述光掩模,对所述保护膜照射所述曝光光的工序b;以及将被所述曝光光照射过的所述保护膜显影,形成保护膜图案的工序c,所述光掩模,在透过性基板上具有:对曝光光有遮光性的半遮光部;被所述半遮光部包围、而且对所述曝光光有透光性的透光部;以及被所述半遮光部包围、且位于所述透光部周边的辅助图案,所述辅助图案,配置在与透过所述透光部的光能形成干涉的距离,所述半遮光部及所述透光部以彼此相同的相位使所述曝光光透过,所述辅助图案,以所述半遮光部及所述透光部为基准,用相反的相位使所述曝光光透过,且不被所述曝光光复制。
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