[发明专利]一种光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法及光谱仪器无效
| 申请号： | 200710046942.3 | 申请日： | 2007-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN101408503A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 刘志高;刘瑶函 | 申请（专利权）人： | 上海光谱仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01;G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 | 代理人： | 吕 伴 |
| 地址： | 201709上海市青浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开的使用光谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法，其首先采用单道或双道波长扫描方法获得光谱仪锐线光源的光谱扫描图谱；然后对光谱扫描数据进行处理，获得杂散光比率数据；再用获得的杂散光比率数据重置杂散光扣除程式中的杂散光比率值；最后在接收仪器信号正常测试的同时，动态扣除单道或双道杂散光。本发明在无须使用任何标准物质的前提下，不增加任何硬件成本，利用锐线光源本身的光谱性质，让光谱仪器进行杂散光自动检测及其动态扣除，极大的提高原子吸收光谱仪的光精度、线性范围、背景校正能力；该技术应用于原子吸收光谱仪高性能自吸背景校正时，仪器的背景校正性能可提高到在1Abs时大于100倍，2Abs时大于80倍。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱仪 散光 自动检测 动态 扣除 方法 光谱 仪器 | ||
【主权项】：
1、使用光谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法，其特征在于，包含以下步骤：1)、采用单道或双道波长扫描方法获得光谱仪锐线光源的光谱扫描图谱；2)、对光谱扫描数据进行处理，获得单道或双道的杂散光比率数据；3)、用步骤2)获得的杂散光比率数据重置杂散光扣除程式中的杂散光比率值；4)、在接收仪器信号正常测试的同时，动态扣除单道或双道杂散光。
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