[发明专利]博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法有效
| 申请号： | 200710045193.2 | 申请日： | 2007-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN101109692A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 孔令东;张敏;陈建民;吴来明;周新光;解玉林;王克华 | 申请（专利权）人： | 复旦大学;上海博物馆 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01N1/28 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人： | 陆飞;盛志范 |
| 地址： | 20043*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于材料测试技术领域，具体为一种博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片及其制备方法。本发明运用现代成熟的镀膜技术在不同基质材料表面镀制厚度为100－300nm纳米级银、铜粒子薄膜，得到所需金属薄膜试片。本发明可大幅度减少金属原材料的用量，并简化操作，降低成本；可避免块状金属试片所带来的实验数据重复性差的不足，有利于数据化分析腐蚀前后试片的差异，避免传统的Oddy Test法所采用的肉眼观察而带来的人为误差。并可大大减少试验周期，便于大规模推广和应用。 | ||
| 搜索关键词： | 博物 馆藏 材料 评估 筛选 金属 薄膜 试片 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种博物馆藏展材料评估筛选用金属薄膜试片，其特征在于由基片上经纳米镀膜技术镀上银或铜纳米膜层而获得，所述基片为玻璃片、有机玻璃片或聚乙然塑料片，其形状为直径18-25mm、厚度为0.8-1.2mm的圆形，或者为长20-35mm、宽10-15mm、厚1.5-2.5mm的长方形，银或铜膜层的厚度为100-300nm。
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