[发明专利]低温显微差示扫描量热系统主体装置无效
申请号: | 200710042760.9 | 申请日: | 2007-06-26 |
公开(公告)号: | CN101334398A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 刘宝林;华泽钊;王刚;袁曙明;邬申义 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N33/48 | 分类号: | G01N33/48;G01N21/84;G01N25/00;C12Q1/04 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 | 代理人: | 宁芝华 |
地址: | 200093*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 低温显微差示扫描量热系统主体装置,包括低温台、样品支架和参比支架;低温台为圆柱体,内设环形氮气通道,并开有冷氮气进、出口;沿低温台中轴线开有两个对称的腔体,腔体的上半部分为圆柱形,下半部分为矩形,样品支架或参比支架放置在矩形腔体内,并用矩形黄铜环固定;冷氮气进入环行通道后,与低温台换热,冷量传到样品和参比支架,完成对样品和参比物的冷却;样品和参比支架采用石英玻璃作基片,在石英基片的上面溅射网格状薄膜热电偶;背面镀透明的氧化锡加热薄膜;分别在薄膜热电偶和氧化锡加热薄膜外面再镀SiO2保护层;样品和参比支架几何对称重量相同。本发明可同时获得升、降温过程中样品的显微图像和各种物理化学参数。 | ||
搜索关键词: | 低温 显微 扫描 系统 主体 装置 | ||
【主权项】:
1.低温显微差示扫描量热仪主体装置,包括低温台(材料为黄铜)、样品支架和参比支架,其特征在于:a)低温台为圆柱体,内设环形氮气通道,并开有冷氮气进口和冷氮气出口,沿低温台中轴线开有两个对称的腔体,腔体的上半部分为圆柱形,下半部分为矩形,样品支架和参比支架放置在矩形腔体内,并用矩形黄铜环固定;冷氮气从冷氮气进口进入环行通道,与低温台换热,冷量通过黄铜传到样品和参比支架,完成对样品和参比物的冷却;b)样品支架和参比支架采用石英玻璃作支架的基材,在石英基片的上面溅射网格状薄膜热电偶;背面镀一层透明的氧化锡薄膜作加热器;分别在网格状薄膜热电偶和氧化锡薄膜加热器外面镀上一层起保护作用的SiO2保护层;c)薄膜热电偶接出极经热电偶引线与控制器连接;氧化锡薄膜加热器的接出极经引线孔与控制器连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710042760.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种角磨机
- 下一篇:原态基因组生命信息芯片及制作方法