[发明专利]二维光子晶体自准直马赫－曾特尔干涉仪及其设计方法无效
| 申请号： | 200710037990.6 | 申请日： | 2007-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN101266337A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 蒋寻涯;赵德印;陈曦耀;张洁;姚培军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G01B9/02 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 | 代理人： | 郑玮;余明伟 |
| 地址： | 200050*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种二维光子晶体自准直马赫－曾特尔干涉仪及其设计方法，其中所述的设计方法包括如下步骤：步骤1、选定材料，确定材料折射率，选择正方晶格光子晶体的类型，确定结构参数；步骤2、利用平面波展开法计算该结构的等频图，得到具有自准直现象的电磁波模式；步骤3、在光子晶体引入线缺陷作为分束器和全反射镜，构成光子晶体马赫－曾特尔干涉仪，在构成干涉仪的材料中引入非线性效应，该干涉仪可以用作光强探测器和光开关；本发明的光子晶体自准直干涉仪、光强探测器和光开关的优点在于光束在光子晶体中自引导不需要导波结构，分束和弯折机制简单，而且避免了光子晶体波导型干涉仪中存在的波导耦合问题，此外还有分束器的分束比容易控制，结构体积小等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 光子 晶体 马赫 曾特尔 干涉仪 及其 设计 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种二维光子晶体自准直马赫-曾特尔干涉仪的设计方法，包括如下步骤：步骤1、选定材料，确定材料折射率，选择正方晶格光子晶体的类型，确定结构参数；步骤2、利用平面波展开法计算该结构的等频图，得到具有自准直现象的电磁波模式；其特征在于，还包括：步骤3、在光子晶体引入线缺陷作为分束器和全反射镜，构成光子晶体马赫-曾特尔干涉仪；
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