[发明专利]SF6气体密度继电器校验仪及校验流程无效
申请号: | 200710036302.4 | 申请日: | 2007-01-09 |
公开(公告)号: | CN101221217A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 苏丽芳 | 申请(专利权)人: | 苏丽芳 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01N9/00 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 | 代理人: | 张恒康 |
地址: | 201110上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种SF6气体密度继电器校验仪的校验流程,包括以下步骤:步骤1,开始;步骤2,自检;步骤3,选择指令,有校验准备、查询数据、设置时间、换算压力、帮助查看及仪器标定供选择;若选择校验准备,则进入步骤3.1,校验准备,先执行步骤3.11,设定测试品编号,接着执行步骤3.12,选择接点数;选定一项后进入步骤3.13,设定额定参数;然后进入步骤3.14,调整压力到额定值,之后执行步骤3.15,校验开始;校验完成后进入步骤3.16,选择是否结束本次校验;若选择否,则回到步骤3.14,若选择是,则进入步骤3.17,存储并打印结果。本发明的优点是:操作简单,符合现场校验流程且使用省力和方便。 | ||
搜索关键词: | sf sub 气体 密度 继电器 校验 流程 | ||
【主权项】:
1.一种SF6气体密度继电器校验仪的校验流程,包括以下步骤:步骤1,开始;步骤2,自检,检查可存数据及剩余可存数据;步骤3,选择指令,有校验准备、查询数据、设置时间、换算压力、帮助查看及仪器标定供选择;若选择校验准备,则进入步骤3.1,校验准备,先执行步骤3.11,设定测试品编号,接着执行步骤3.12,选择接点数,有报警接点、报警接点+闭锁接点、报警接点+闭锁1接点+闭锁2接点及报警接点+闭锁接点+超压接点供选择;选定一项后进入步骤3.13,设定额定参数,必须设定额定压力值、精度、报警压力值及闭锁压力值;然后进入步骤3.14,调整压力到额定值,之后执行步骤3.15,校验开始,校验额定压力值、报警压力值、报警返回压力值、闭锁压力值及闭锁返回压力值;校验完成后进入步骤3.16,选择是否结束本次校验;若选择否,则回到步骤3.14,若选择是,则进入步骤3.17,存储并打印结果。
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