[发明专利]X射线设备的焦点－检测器装置的X射线光学透射光栅有效
| 申请号： | 200710007967.2 | 申请日： | 2007-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN101013613A | 公开（公告）日： | 2007-08-08 |
| 发明（设计）人： | 乔基姆·鲍曼;克里斯琴·戴维;马丁·恩格尔哈特;乔尔格·弗罗伊登伯格;埃克哈德·亨普尔;马丁·霍海塞尔;托马斯·默特尔迈耶;弗朗兹·法伊弗;斯蒂芬·波普斯库;曼弗雷德·舒斯特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G21K1/06 | 分类号： | G21K1/06;A61B6/00;G01N23/04;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;李晓舒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于产生检查对象(7，P)的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备(1)的焦点－检测器装置(F，D)的X射线光学透射光栅(Gx)，其具有大量的周期地布设在至少一个晶片的至少一个表面上的栅条(S)和栅空(L)，其中，所述X射线光学透射光栅(Gx)由至少两个沿射线方向直接相继地布设的子光栅(Gx1，Gx2)组成。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 设备 焦点 检测器 装置 光学 透射 光栅 | ||
【主权项】：
1.一种用于产生检查对象(7，P)的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备(1)的焦点-检测器装置(F，D)的X射线光学透射光栅(Gx)，其具有大量的周期地布设在至少一个晶片的至少一个表面上的栅条(S)和栅空(L)，其特征在于，所述X射线光学透射光栅(Gx)由至少两个沿射线方向直接相继地布设的子光栅(Gx1，Gx2)组成。
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