[发明专利]用于监视产品退化的设备无效
申请号: | 200680052067.3 | 申请日: | 2006-12-28 |
公开(公告)号: | CN101336367A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 雷诺·瓦扬 | 申请(专利权)人: | 克里奥洛格公司 |
主分类号: | G01K3/04 | 分类号: | G01K3/04;G01N33/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 朱胜;李春晖 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明涉及一种用于监视易腐产品退化的设备(10),该设备可设置在产品附近,且包括:时间测量模块(12)如时钟以及至少一个传感器(12),该传感器用于测量表示产品的存储条件如温度、相对湿度、大气组成的至少一个产品内在变量;程序存储器(16),用于记录显示特定于受监视产品的退化模型的程序;处理器(18),其通过利用表示依赖于时间的产品退化程序以及由传感器测量的内在变量值来计算;数据存储器,用于存储产品的内在参数,比如pH、和/或结构、和/或水活性、和/或有机酸含量、和/或热传递因子、和/或限制菌群含量、和/或酶降解产物和/或氧化还原电势,其中,在退化模型中考虑内在参数的变化,使得处理器所进行的退化计算仅取决于内在变量和时间。 | ||
搜索关键词: | 用于 监视 产品 退化 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于监视易腐产品退化的设备(10),所述设备被设计为邻近所述产品放置,所述设备包括:-时间测量模块(12)如时钟以及至少一个传感器(14),该传感器测量表示所述产品的保藏条件的所述产品的至少一个外在变量如温度、相对湿度、大气组成,-程序存储器(16),用于存储表示受监视产品的特定退化模型的程序,-处理器(18),该处理器使用表示所述退化模型的程序以根据时间和所述传感器所测量的外在变量值来计算所述产品的退化状况,-数据存储器(20),用于存储所述产品的内在参数,所述产品的内在参数为它的pH和/或它的结构和/或它的水活性和/或它所含的有机酸量和/或它的热传递系数和/或它所含限制菌群和/或酶降解产物和/或氧化还原电势,在所述退化模型中考虑所述内在参数的变化,使得所述处理器所进行的退化计算仅基于所述外在变量和时间。
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