[发明专利]仪表校准方法和系统无效
| 申请号： | 200680044979.6 | 申请日： | 2006-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN101322043A | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | H·瑟帕 | 申请（专利权）人： | 芬兰国立技术研究中心 |
| 主分类号： | G01R35/04 | 分类号： | G01R35/04;G01R11/17;G01D4/08;G01D18/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 刘佳 |
| 地址： | 芬兰埃*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
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| 摘要： | 本公开揭示一种用于校准系统中的仪表的方法，其中若干仪表(1，j)用来测量要求的量；一个采集仪表(4)用来测量形成前述若干仪表(1)的总量的量。根据本发明，若干仪表(1)和采集仪表(4)两者的测量结果被反复地和至少近乎同时地记录；并从记录的测量数据及其记录次数，产生各仪表(1，j)的相对测量误差和可能的误差偏离的模型。 | ||
| 搜索关键词： | 仪表 校准 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种校准系统中仪表的方法，其中若干仪表(1，j)用来测量要求的量；一个采集仪表(4)用来测量形成前述若干仪表(1)的总量的量，其特征在于，若干仪表(1)和采集仪表(4)两者的测量结果被反复地和至少近乎同时地记录；以及从记录的测量数据及其记录次数，产生各仪表(1，j)的相对测量误差和可能的误差偏离的模型。
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