[发明专利]在光学记录介质上确定最佳再现条件的方法和设备无效
| 申请号： | 200680040836.8 | 申请日： | 2006-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN101300628A | 公开（公告）日： | 2008-11-05 |
| 发明（设计）人： | 裴在喆;金朱镐;黄仁吾;朴贤洙;福泽成敏;菊川隆;小林龙弘 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社;TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/125 | 分类号： | G11B7/125 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;刘奕晴 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种确定记录在光学记录介质上的标记的最佳再现条件的方法，其中，至少一个所述标记的长度小于拾取器的分辨率。所述方法包括：获得具有接近于拾取器的分辨率的长度的标记的最佳再现条件；和使用获得的最佳再现条件确定标记的最佳再现条件。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 确定 最佳 再现 条件 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种确定记录在光学记录介质上的标记的最佳再现条件的方法，其中，至少一个所述标记的长度短于记录/再现设备的拾取器的分辨率，所述方法包括：获得具有接近于拾取器的分辨率的长度的标记的最佳再现条件；和使用获得的所述标记的最佳再现条件确定标记的最佳再现条件。
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