[发明专利]圆形、圆筒形的测定方法及圆筒形的测定设备有效

专利信息
申请号: 200680032573.6 申请日: 2006-02-28
公开(公告)号: CN101258380A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 川井康裕;寺本杏一;川守田阳一 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种在圆筒尺寸测定尤其在圆周表面的测定中使测定工作量小、使各测定值极其准确、以及有效地减少测定点的数量的测定方法。在垂直于圆筒轴线的截面圆形状的测定方法中,本发明的特征在于具有如下步骤:基于通过转动圆筒,截面圆的圆周上的至少三个预定点到设于截面圆中的基准点的距离的变化来计算基准点与圆周上的点之间的距离,并确定截面圆的形状。
搜索关键词: 圆形 圆筒 测定 方法 设备
【主权项】:
1.一种截面圆形状的测定方法,该测定方法使用由圆筒支撑夹具和安装架构成的测定装置通过以下步骤(i)至(vi)来测定垂直于圆筒轴线的截面圆的形状,所述安装架具有三个或更多个用于检测位移的传感器,所述传感器位于与所述圆筒的转动轴线垂直的同一截面上、朝向作为所述圆筒的转动轴线与垂直于所述转动轴线的截面的交点的测定基准点(O0)取向、并且布置和固定为连接所述测定基准点(O0)与所述三个或更多个传感器所形成的扇形形状、且以O0为中心相互形成预定角度(θ°),所述步骤包括:(i)通过用于检测m个(这里,m是3或更多)位移的传感器(S1至Sm)测定从各检测轴线上的所述测定基准点(O0)到垂直于所述圆筒轴线的截面圆的圆周上的点的距离(L1至Lm)的步骤,(ii)沿第一个传感器S1至第二个传感器S2的方向将所述圆筒转动θ°,再次通过用于检测位移的传感器测定从各检测轴线上的所述测定基准点(O0)到垂直于所述圆筒轴线的所述截面圆的圆周上的点的距离的步骤,(iii)从用于检测位移的所述传感器在所述圆筒的θ°转动之前和之后的测定值的变化来计算浮动中心O′的位置的步骤,(iv)计算用于检测位移的传感器Sm的轴线上的距离(O0-O′)以及测定从用于检测位移的所述传感器Sm的所述轴线上的O′到垂直于所述圆筒轴线的所述截面圆的圆周上的点的新距离的步骤,(v)通过重复所述步骤(ii)至(iv)来测定n个距离的步骤,以及(vi)使用得到的所述各距离计算所述截面圆的圆周形状的步骤。
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